SRM 3600 X射線(xiàn)散射校準 NIST標準物質(zhì)

SRM 3600 X射線(xiàn)散射校準 NIST標準物質(zhì)

       SRM 3600旨在用于小角度 X 射線(xiàn)散射 (SAXS) 儀器的散射強度校準。 SAXS 測量表征了異質(zhì)材料系統的微觀(guān)結構和納米結構：特別是微米級和納米級特征的尺寸分布，以及通過(guò)散射強度校準，它們的體積分數或數量濃度，以及它們的表面積 。 SRM 3600 的一個(gè)單元由一個(gè)大約尺寸為 10 mm x 10 mm x 1 mm 的玻璃碳試樣組成。

品牌：NIST標準物質(zhì)

SRM Number（貨號）：SRM 3600

Description：Absolute Intensity Calibration Standard for Small-Angle X-ray Scattering

描述：X射線(xiàn)散射校準

Unit of Issue（產(chǎn)品規格）：coupon

SRM 3600 X射線(xiàn)散射校準 NIST標準物質(zhì)

        儲存方法：SRM 3600 應在干燥的環(huán)境條件下存放在提供的塑料膜盒內，遠離過(guò)多的水分或熱量（最高 60 °C）。 SRM 3600 玻璃碳材料已被證明可在長(cháng)時(shí)間校準時(shí)保持穩定，在這些儲存條件下具有無(wú)限的保質(zhì)期。

        使用方法：要使用 SRM 3600 使用帶有二維 (2D) 位置敏感檢測器 (PSD) 的傳統 SAXS 儀器為“未知"樣品提供 SAXS 強度校準，必須遵循幾個(gè)步驟。根據需要使用衰減器保護 2D PSD 免受入射 X 射線(xiàn)束的影響（空白、樣品和標準品的衰減相同），測量樣品 TS 和標準品 TSTD 相對于入射光束的透射率（空白）在 Q = 0 時(shí)測量的強度，其中 Q = (4π/λ)sinθ，λ 是 X 射線(xiàn)波長(cháng)，θ 是散射角的一半 [1]。還可以從這些傳輸測量中確定 2D PSD 上的入射光束位置。然后，用一個(gè)光束擋板保護 2D PSD 免受入射 X 射線(xiàn)束的影響，在相同條件下對“未知"樣品、空白（不存在樣品）和電子背景（X 射線(xiàn)）進(jìn)行 SAXS 測量光束關(guān)閉）和 SRM 3600 標準試樣。將每個(gè) 2D PSD 像素的所有測量強度歸一化為入射光束強度，然后減去每個(gè)像素的電子背景。對于樣品和標準品，分別減去每個(gè) PSD 像素的空白散射，分別由因子 TS 或 TSTD 衰減。然后相對于探測器上的入射光束位置（Q = 0 的位置）對 2D PSD 數據進(jìn)行循環(huán)平均，并除以各自的透射率 TS 或 TSTD 以及樣品或標準厚度 τSor τSTD。請注意，對于 SRM 3600，應使用 τSTD = 1.055 mm

部分NIST標準物質(zhì)產(chǎn)品列表（因篇幅有限，僅列舉極小部分）: